Aktivitäten 2025

Auf dieser Seite finden Sie eine Liste kommender bzw. laufender Events, an denen wir als Abteilung Sichtprüfsysteme des Fraunhofer IOSB beteiligt sind oder die wir selbst organisieren.

Zu den zurückliegenden Events geht es über die Links im blauen Kasten, rechts.

Herzliche Einladung - wir freuen uns, Sie bei einer dieser Gelegenheiten zu treffen!

Vernetzung und Expertise für Organisationen der Photonik und Machine Vision:

SpectroNet, dem Cluster für Photonik und Machine Vision, bietet ein Netzwerk den interessierten Akteuren aus Industrie, Biologie, Medizin, Umwelt und Sicherheit und bündelt die neuesten Entwicklungen zur optischen Charakterisierung von Materialien.

Auf der OCM SpectroNet Collaboration Conference 2025 (SCC 2025) werden geo-, farbige, multi-, hyper- und vollspektrale photonische Messanwendungen präsentiert werden.

Die Veranstaltung findet am Fraunhofer IOSB in Karlsruhe slatt. 

Der Stand der Technik in der optischen Charakterisierung von Materialien schreitet schnell voran. Neue Erkenntnisse über die theoretischen Grundlagen dieser Forschung wurden gewonnen und spannende Entwicklungen in der Praxis gemacht, getrieben von neuen Applikationen und innovativen Sensortechnologien, die sich ständig weiterentwickeln.

Der große Erfolg der vergangenen Konferenzen beweist die Notwendigkeit einer Plattform zur Präsentation, Diskussion und Bewertung der neuesten Forschungsergebnisse in diesem interdisziplinären Bereich. Aus diesem Grund findet die internationale Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien (OCM) im März 2025 zum siebenten Mal statt.

Wir sind mit 1 Vortrag vertreten:

PAH Detection in Road Surface Residue Using Various Hyperspectral Imaging Sensors with Detection Spray Proxy

Referent: Paul Bäcker

Außerdem werden 5 Poster präsentiert:

Robust model development for HSI-based characterization of post-consumer plastics

Referent: Lukas Roming

Adaptive architectures for semantic segmentation in the field of sensor-based sorting systems

Referent: Felix Kronenwett

Non-Destructive Quality Control using a Multi-Sensory Fruit Scanner with NIR and Microwaves

Referent: Anna Taphorn

Optimizing Near-Infrared Spectroscopy for On-line Grape Must Quality Assessment: Addressing the Impact of Suspended Solids

Referent: Pascal Gauweiler

Inverse rendering for material characterization

Referent: Johannes Meyer

Nach wie vor ist ein Bildverarbeitungssystem für die meisten Anwendungen kein Produkt von der Stange, sondern verlangt anwendungsspezifische Anpassung. Das Seminar will den Teilnehmern daher einen Einblick in den Stand der Technik im Bereich der Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen vermitteln. Die Teilnehmer sollen Möglichkeiten und derzeitige Grenzen der automatischen Oberflächenprüfung kennen lernen, um hieraus Leitlinien für die eigene Investitionsplanung ableiten zu können.

Wir sind mit folgenden Beiträgen beteiligt:

Bildgewinnung bei der Oberflächenprüfung

Thomas Längle

Lichtfeld-Technologien

Christian Kludt

Theorie und Methoden der Farbmessung

Robin Gruna

Inspektion transparenter Materialien

Station des Praktikums mit Christian Kludt