Aktivitäten 2026

Auf dieser Seite finden Sie eine Liste kommender bzw. laufender Events, an denen wir als Abteilung Sichtprüfsysteme des Fraunhofer IOSB beteiligt sind oder die wir selbst organisieren.

Zu den zurückliegenden Events geht es über die Links im blauen Kasten, rechts.

Herzliche Einladung - wir freuen uns, Sie bei einer dieser Gelegenheiten zu treffen!

Diese Konferenz ist eine von der IEEE Industrial Electronics Society (IES) organisierte Leitveranstaltung, mit dem Ziel, die internationale Fachgemeinschaft zusammenzubringen, um die neuesten Forschungsergebnisse vorzustellen, neue Ideen und technische Durchbrüche auszutauschen sowie aktuelle Herausforderungen und zukünftige Entwicklungen in den Bereichen Technologie und Innovation zu diskutieren.

Felix Kronenwett ist mit einem Beitrag vor Ort:

Line-Scan Sensors and Convolutional Neural Networks: Unified Modelling, Parameter Selection and Row-Wise Inference

Er stellt ein mathematisch konsistentes Systemmodell für die Echtzeit-Verarbeitung von Zeilenkameradaten mittels Convolutional Neural Networks (CNNs) in der industriellen Bildverarbeitung vor, inklusive präziser Latenz- und Stabilitätsgrenzen. Durch das zeilenweise Verschieben und das Wiederverwenden von Feature-Maps werden nur die tatsächlich neu eingetroffenen Bildzeilen neu berechnet. Diese effiziente Inferenz-Strategie liefert mathematisch identische Ergebnisse wie die klassische Batch-Verarbeitung.

Die Konferenz vereint zwei der besten Photonik-Konferenzen Europas – 𝗦𝗣𝗜𝗘 𝗘𝗻𝘃𝗶𝗿𝗼𝗻𝗺𝗲𝗻𝘁𝗮𝗹 𝗥𝗲𝗺𝗼𝘁𝗲 𝗦𝗲𝗻𝘀𝗶𝗻𝗴 und 𝗦𝗣𝗜𝗘 𝗦𝗲𝗰𝘂𝗿𝗶𝘁𝘆 + 𝗗𝗲𝗳𝗲𝗻𝗰𝗲. 
Mit insgesamt 17 technischen Konferenzthemen werden die neuesten Sensor- und Photoniktechnologien zur Bildgebung und Überwachung der Erdatmosphäre und -umgebung sowie Sensortechnologien präsentiert. 

🗣️ Wir sind mit 3 Beiträgen vertreten:

»End-to-end learning of screen pattern and network parameters for one-shot deflectometric surface inspection«

Referent: Meyer, Johannes  15. September 2026 um 11:20 - 11:40 Uhr  | Lowther
Ein neues Framework: deutlich robustere und genauere Fehlererkennung, gerade bei komplexen Geometrien und feinen Defekten.

»Efficient mechanical-free acquisition of the bidirectional reflectance distribution function BRDF via computational illumination and sensing«

Referent: Meyer, Johannes 15. September 2026 um 11:40 - 12:00 Uhr  | Lowther
Dieser Ansatz eröffnet neue Möglichkeiten für Materialcharakterisierung, optische Inspektion und realistische Appearance-Erfassung.

»Efficient primal-dual pattern generation for arbitrary light transport probing«

Referent: Dippon, Lukas 15. September 2026 um 16:40 - 17:00 Uhr  | Lowther
Hochauflösende Lichtmuster erweitern die Grenzen der optischen Materialcharakterisierung. Mehr Auflösung. Mehr Licht. Mehr Erkenntnis.

👍Sie wollen mehr darüber wissen? Lesen Sie die Abstracts, siehe Links in der Box.

Bildverarbeitung spielt in vielen Bereichen der Technik zur schnellen und berührungslosen Datenerfassung eine Schlüsselrolle. Beispielsweise in der Qualitätssicherung industrieller Produktionsprozesse, in der Robotik und zur Fahrerassistenz haben sich Bildverarbeitungssysteme einen unverzichtbaren Platz erobert. Diese Entwicklung wird unterstützt durch die Verfügbarkeit qualitativ hochwertiger und günstiger Sensorsysteme, durch die Zunahme der Leistungsfähigkeit von Rechnersystemen sowie Fortschritte im Bereich der Methodik zur Auswertung der Bilddaten.

Das »Forum Bildverarbeitung« hat das Ziel, über aktuelle Trends zu Lösungen in der Bildverarbeitung zu berichten und zum fachlichen Austausch zwischen den Teilnehmern beizutragen.

Nach wie vor ist ein Bildverarbeitungssystem für die meisten Anwendungen kein Produkt von der Stange, sondern verlangt anwendungsspezifische Anpassung. Das Seminar will den Teilnehmern daher einen Einblick in den Stand der Technik im Bereich der Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen vermitteln. Die Teilnehmer sollen Möglichkeiten und derzeitige Grenzen der automatischen Oberflächenprüfung kennen lernen, um hieraus Leitlinien für die eigene Investitionsplanung ableiten zu können.

Auch diese Jahr sind wir als Mitveranstalter mit Vorträgen und Workshops am Gelingen der Veranstaltung beteiligt.